평탄도 수평도 표준 검사법 번역(영어 원본)Standard Test Method for Determining FF Floor Flatness and FL Floor Levelness Numbers1
This standard is issued under the fixed designation E1155; the number immediately following the designation indicates the year of original adoption or, in the case of revision, the year of last revision. A number in parentheses indicates the year of last reapproval. A superscript epsilon (´) indicates an editorial change since the last revision or reapproval. This standard has been approved for use by agencies of the Department of Defense.
1. Scope
1.1 This test method covers a quantitative method of measuring floor surface profiles to obtain estimates of the floor’s characteristic FF Flatness and FL Levelness Face Floor Profile Numbers (F-Numbers) using the inch-pound system of units.
NOTE 1—Acomplete metric companion to Test Method E1155 has been developed, Test Method E1155M; therefore, no metric equivalents are shown in this test method.
1.2 The text of this test method references notes and footnotes that provide explanatory material. These notes and footnotes (excluding those in tables and figures) shall not be considered as requirements of this test method.
1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.
3. Terminology
3.1 Definitions of Terms Specific to This Standard:
3.1.1 elevation—height, altitude, vertical location in space. Elevation measurements are always made parallel to the direction of gravity.
3.1.2 flat—even, plane, homoloidal, free of undulation.
3.1.2.1 Discussion—For the purposes of this test method, flatness will be measured by calculating curvature value, q, between all 12-in. reading points separated by 24 in. The curvature value is the difference between successive elevation differences. The mean and standard deviation of all the curvature values for a given test section are then converted according to the equations in this test method to get the dimensionless FF Flatness Number.
3.1.3 floor profilometer—a Type I device (see 6.1.1) that produces a continuous record of the elevation of a single point moving along a line on the floor’s surface.
3.1.4 horizontal—level, normal to the direction of gravity.
3.1.5 inclinometer—a Type II device (see 6.1.2) that measures the angle between horizontal and the line joining the two points of contact with the floor’s surface.
3.1.6 level—horizontal, normal to the direction of gravity.
3.1.6.1 Discussion—For the purposes of this test method, levelness will be measured by collecting elevation differences at points spaced 10 ft apart and that will be described by the FL Levelness number (dimensionless).
3.1.7 longitudinal differential floor profilometer, n—a Type II device (see 6.1.2) that produces a continuous record of the elevation difference between two points moving along a line on the floor’s surface, which two points remain separated by a fixed distance.
3.1.8 sample measurement line—a sample measurement line shall consist of any straight line on the test surface along which measurements are taken, with the limitations listed in 7.3.
3.1.9 sign convention—where up is the positive direction; down is the negative direction. Consequently, the higher the reading point, the more positive its hi value, and the lower the reading point, the more negative its hi value. Similarly, the elevation difference from a low point to a high point (that is, an uphill difference) is positive, while the elevation difference from a high point to a low point (that is, a downhill difference) is negative.
3.1.10 test section—a test section consists of any subdivision of the test surface with the limitations listed in 7.2.
3.1.11 test surface—on any one building level, the entire floor area of interest constitutes the test surface, with the limitations listed in 7.1.
3.1.12 vertical—parallel to the direction of gravity.
3.2 Symbols:
3.2.1 Ai—area of Test Section i.
3.2.2 di—difference in elevation (in inches) between reading points Pi and Pi−1 (i ≥ 1).
3.2.3 Ff—Face FF Flatness Number (dimensionless).
3.2.4 Ffi—composite FF Flatness Number for Test Section i.
3.2.5 Fl—Face FL Levelness Number (dimensionless).
3.2.6 Fli—composite FL Levelness Number for Test Sectioni.
3.2.7 hi—elevation (in inches) of Reading Point Pi (i ≥ 0).
3.2.8 nj—number of reading points in Test Sample j(nj ≥ 12).
3.2.9 Nmin—minimum number of 10-ft elevation difference readings required per the test section.
3.2.10 qi—arithmetic difference (in inches) between elevation differences di and di−1 (i ≥ 2).
3.2.11 rxj—number of readings of Variable xobtained from Sample j.
3.2.12 sxj—standard deviation of Variable x in Sample j.
3.2.13 Vxj—variance of Variable x in Sample j.
3.2.14 zi—difference in elevation (in inches) between Reading Points Pi and Pi−10 (i ≥ 10).
4. Summary of Test Method
4.1 Straight lines are marked at various locations on the floor surface. Point elevations are then measured at regular 12-in. intervals along each line. The elevation differences between all adjacent reading points are calculated, and a straight line approximation to the surface profile along each measurement line is produced and evaluated for consistency with visual observation of the floor surface.
4.2 The arithmetic differences between all adjacent 12-in. elevation differences and the elevation differences between all points separated 10 ft are then calculated. Estimates of each test section’s floors FF Flatness and FL Levelness F-Numbers are obtained through statistical analyses of these calculated profile values. Finally, the F-Numbers for each test section are combined to arrive at a composite set of F-Numbers for each test surface.
5. Significance and Use
5.1 This test method provides statistical (and graphical) information concerning floor surface profiles.
5.2 Results of this test method are used primarily to:
5.2.1 Establish compliance of randomly trafficked floor surfaces with specified FF Flatness and FL Levelness tolerances,
5.2.2 Evaluate the effect of different construction methods on resulting floor surface flatness and levelness, and
5.2.3 Investigate the curling and deflection of floor surfaces.
5.3 Results of this test method shall not be used to enforce contract flatness and levelness tolerances on those floor installations primarily intended to support the operation of fixedpath vehicle systems (for example, narrow aisle warehouse floors).
NOTE 2—When the traffic patterns across a floor are random, (as is generally the case) evaluation of the floor’s FF Flatness and FL Levelness will necessarily involve a random sampling of the surface, since all of the infinite potential profiles to be seen by the traffic can not possibly be measured. In those instances when the traffic across a floor will be confined to specific paths, however, the requirement for random sampling is eliminated, since the floor can indeed be inspected exactly as it will be seen by all of the traffic. In these special cases, rather than inferring the condition of the traffic paths from a random sample, it is far more useful to measure each of the traffic paths directly using continuous recording floor profilometer configured to run exactly in the traffic wheel paths. Such direct simulation measurements eliminate the inherent uncertainties of statistical sampling and provide profile information immediately applicable to the correction of the surface in way of the future traffic. |
평탄도 수평도 표준 검사법 번역(한국어 번역본)FF 바닥 평탄도와 FL 바닥 수평도 계산을 위한 표준 검사법
본 표준은 고정 지명 E1155하에서 공표되었다. 지명 뒤에 따르는 숫자는 최초 채택 년도를 나타내며 수정된 경우에는 마지막 수정이 이루어진 년도를 의미한다. 괄호 안의 숫자는 마지막 재 승인이 있었던 해를 의미한다. 첨자 ε는 마지막 수정 또는 재승인 후에 이루어진 편집 상의 변화를 보여준다.
1. 범위
1.1 본 검사법은 인치-파운드 단위계를 사용하여 바닥의 FF 평탄도와 FL 수평도 바닥 프로필 수(Face Floor Profile Numbers: F수)의 추정 값을 얻기 위해 바닥 면 프로필을 측정하는 정량적 방법을 포괄한다.
메모 1-검사법 E1155에 대한 완전한 미터법인 검사법 E1155m이 개발되어 있으므로 본 검사법에서는 미터법 등가치를 제공하지 않는다.
1.2 본 검사법은 설명을 위한 자료를 제공하는 메모와 주석을 포함하고 있다. 이러한 메모와 주석을 (표와 그림 제외) 본 검사법의 요건으로 간주해서는 안 된다.
1.3 본 표준은 그 사용과 관련한 안전 관련 우려를 완전히 해소하지 않는다. 사용 전에 적절한 안전 및 보건 규칙을 수립하고 규제적 제한의 적용 가능성을 판단할 책임은 본 표준의 사용자에게 있다.
3. 용어
3.1 본 표준에서 사용하는 용어의 정의
3.1.1 높이 – 공간에서의 수직적 위치, 고도, 높이. 높이는 항상 중력의 방향과 나란히 측정한다.
3.1.2 평탄한 – 고른, 평면의, 기복이 없는
3.1.2.1 논의 – 본 검사법에서는 24 인치로 구분한 모든 12 인치 측정 점 사이에서 곡률 값 q를 계산함으로써 평탄도를 측정한다. 그 후에는 특정 검사 섹션에 대한 모든 곡률 값의 평균과 표준편차를 공식에 따라 전환하여 무한 Ff 평탄도 값을 구한다.
3.1.3 바닥 조면계 – 바닥 표면의 한 선을 따라 움직이는 단일 지점의 높이를 연속적으로 측정하는 1 유형 장비 (6.1.1)
3.1.4 수평 – 수평, 중력의 방향과 직각을 이룬다.
3.1.6.1 논의 – 본 검사법에서는 10 피트 간격의 지점에서 높이의 차이를 계산하여 수평도를 측정하며 FL 수평도 값 (무한)으로 표시한다.
3.1.7 종 방향 차분 바닥 조면계 – 바닥 표면의 한 선을 따라 움직이는 두 점 (두 점의 간격은 고정되어 있다) 사이의 높이 차이를 연속적으로 기록하는 2 유형 장비 (6.1.2 참조).
3.1.8 표본 측정선 – 표본 측정 선은 7.3에 나열된 한계를 고려하여 측정이 이루어지는 검사 표면 상의 직선으로 구성되어야 한다.
3.1.9 부호규약 – 위쪽이 양 방향, 아래쪽이 음 방향인 경우. 결과적으로 측정 점이 높을수록 hi 값이 양에 가까워지고 측정 점이 낮을수록 음에 가까워 진다. 이와 비슷하게 낮은 점에서 높은 점까지의 높이 차이 (오르막 차이)는 양의 값이며 높은 점부터 낮은 점까지의 높이 차이 (즉, 내리막 차이)는 음의 값이다.
3.1.10 검사 섹션 – 7.2에 나열된 한계와 함께 검사 표면의 하위구분으로 이루어지는 검사 섹션.
3.1.11 검사 표면 – 7.1에 나열된 한계와 함께 건물의 한 층에서 검사 대상이 되는 전체 바닥 면적이 검사 표면을 구성한다.
3.1.12 수직 – 중력의 방향과 평행하다.
3.2. 기호:
3.2.2. Ai – 검사 섹션 i의 면적
3.2.2. di – 측정 점 Pi 와 Pi-1 (i≥1) 사이의 높이 차이 (인치 단위)
3.2.3. Ff – 면 FF 평탄도 수 (무한)
3.2.4 Ffi – 검사 섹션 i에 대한 합성 FF 평탄도 수
3.2.5 FI – 면 FL 수평도 수 (무한)
3.2.6 FIl – 검사 섹션 i에 대한 합성 FL 수평도 수
3.2.7 hi – 측정 점 PI (ij≥0)의 높이 (인치 단위)
3.2.8 nj – 검사 표본 j (nj≥12)에서 측정점의 수
3.2.9 Nmin – 검사 표본 당 필요한 최소한의 10 피트 높이 차이 측정 수
3.2.10 qi – 높이 차이 di 와 di-1 (i≥2) 사이의 산술적 차이 (인치 단위)
3.2.11 r터 – 표본 j에서 얻어진 편수 x 측정 수
3.2.12 s터 – 표본 j에서 변수 x의 표준편차
3.2.13 VXJ – 표본 j에서 변수 x의 분산
3.2.14 zI – 측정 점 Pi 와 Pi-10 (i≥10) 사이의 높이 차이 (인치 단위)
4. 검사법 요약
4.1 바닥 표면의 여러 지점에 직선을 표시하고 각 선을 따라 12 인치 정규 간격 마다 지점의 높이를 측정한다. 인접한 모든 측정 점 간의 높이 차이를 계산하고 각 측정 선을 따라 표면 프로필에 대한 직선 근사값을 계산하고 바닥 표면에 대한 시각적 관찰을 통해 일관성을 평가한다.
4.2 인접한 모든 12 인치 높이 차이 간의 산술적 차이와 10 피트 간격의 모든 지점 사이의 높이 차이를 계산한다. 이렇게 계산한 값을 통계적으로 분석하여 각 검사 섹션 바닥의 FF 평탄도와 FL 수평도 F수의 추정 값을 얻는다. 마지막으로 각 검사 섹션에 대한 F수를 결합하여 각 검사 표면에 대한 합성 F수를 도출한다.
5. 의의와 사용
5.1 본 검사법은 바닥 표면 프로필에 대한 통계적 (및 도형적) 정보를 제공한다.
5.2 본 검사법을 통해 도출한 결과는 주로 다음과 같은 목적으로 사용한다.
5.2.1 구체적인 FF 평탄도와 FL 수평도 공차를 통해 임의적으로 거래된 바다 표면의 적법성을 확보한다.
5.2.2 상이한 건축 방법이 결과물인 바닥 표면의 평탄도와 수평도에 미치는 효과를 평가한다.
5.2.3 바닥 표면의 변형과 처짐을 조사한다.
5.3 고정경로 운반 시스템의 운전을 지원하는 것이 주된 목적인 바닥 설치에 대한 약정 평탄도와 수평도를 이행하기 위해 본 검사법의 결과를 사용해서는 안 된다.
메모 2 – 바닥을 가로지르는 트래픽 패턴이 임의적인 경우 (일반적인 상황) 바닥의 FF 평탄도와 FL 수평도를 평가하기 위해서는 반드시 표면에 대한 임의적 샘플링이 필요하다. 그 이유는 이러한 트래픽에 의해 보여지는 유한한 잠재적 프로필 모두를 측정할 수 없기 때문이다. 그러나 바닥을 가로지르는 트래픽이 특정한 경로에 한정되는 경우에는 임의적 샘플링이 필요하지 않은데, 모든 트래픽에 의해 보여지는 것 그대로 바닥을 검사할 수 있기 때문이다. 이와 같이 특별한 경우에는 임의적 표본으로부터 트래픽 경로의 조건을 추론하는 것보다 트래픽 휠의 경로를 정확하게 지나도록 설정한 연속 기록 바닥 조면계를 사용하여 각 트래픽 경로를 직접 측정하는 것이 훨씬 유용하다. 이와 같은 직접적 가상 측정을 통해 통계적 샘플링에 내재되어 있는 불확실성을 제거하고 향후 트래픽에 맞추어 표면을 교정하는 데 즉각적으로 사용 가능한 프로필 정보를 제공할 수 있다. |
